叶面积分析测量仪（高级）

简要描述：叶面积分析测量仪（高级），叶面积测量仪可拍照与分析一键化操作，同时分析多片叶的叶面积、周长，最大叶长、最大叶宽，矩形度，凹凸比，球状性，形状系数，虫洞数量，虫损和虫洞叶面积，以及单叶的叶孔洞、形状系数、锯齿数、叶柄长宽等参数，并标记叶片边缘以便核对正确性。

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　　叶面积分析测量仪(高级)，叶面积测量仪的介绍

　　1、配大景深的1200万像素拍摄仪、>10000mAH的5V移动电源辅助背光源板，可野外背光照明3小时。标配的最大测量面积380*265mm，自动标定和自动图像校正。

　　2、可拍照与分析一键化操作，同时分析多片叶的叶面积、周长，最大叶长、最大叶宽，矩形度，凹凸比，球状性，形状系数，虫洞数量，虫损和虫洞叶面积，以及单叶的叶孔洞、形状系数、锯齿数、叶柄长宽等参数，并标记叶片边缘以便核对正确性。

　　3、可分析小至1mm ^2的叶片，分析误差<0.5%、测量中的分析时间<2秒，自动独立标记各叶片并可保存图，分析结果可输出至Excel表。

　　4、可自动测定非相碰的稻谷、小麦、瓜子等普通种子的各粒粒长、粒宽、投影粒面积。