水稻表型检测系统可测量水稻株高、夹角、茎粗、水稻亩穗数、理论产量、水稻穗粒数、一/二次枝梗数量和长度、各枝梗穗粒数、着粒密度、穗长、总粒数和千粒重等指标，为水稻品种筛选、水稻产量预测、稻穗动态发育、基因定位、功能解析和水稻遗传育种中发挥着至关重要的作用。

大豆表型检测仪是一款利用图像来分析大豆表型相关性状的检测系统，可以测量大豆夹角、茎粗、总粒数和千粒重等指标，这些表型参数为大豆品种筛选、产量预测、基因定位、功能解析等方面发挥着至关重要的作用。