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大豆表型检测系统

简要描述:大豆表型检测仪是一款利用图像来分析大豆表型相关性状的检测系统,可以测量大豆夹角、茎粗、总粒数和千粒重等指标,这些表型参数为大豆品种筛选、产量预测、基因定位、功能解析等方面发挥着至关重要的作用。

  • 产品型号:DJD-BX-1
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-04-22
  • 访  问  量:118
详情介绍
 功能特点:

1、一体式连接:压板和转轴柄一体式连接,方便固定作物茎部,减少风吹草动对作物角度拍摄的影响。

2、拍照识别自动去杂质:成像清晰,数粒准确。

3、数粒速度快:1000粒以下种子识别只需1秒。

4、数粒范围广:种子范围能测10粒以上,8000粒以下的种子。

5、自动换成千粒重:可通过识别的种子粒数,输入重量,可自动换算出千粒重。

6、高度不固定:不限制用户拍照的高度,操作简单,使用方便。

7、比例尺自动矫正:任意手机可拍照,且拍摄成像视角可以被自动矫正,避免了拍照变形误差。

8、智能修正:触摸屏幕可进行修正,使结果更精准。

9、数据查看:数据查看多样化,拍照分析后即可查看结果,也可在历史记录中查看数据报表。

10、数据导出和共享:支持数据修正、查询、编辑和导出,数据可导出Excel格式,并可分享至微信、QQ或者钉钉,便于多应用方式查看数据。

11、重复性数值误差较小:手机和作物之间固定距离设置,重复性拍摄夹角角度无差异。

技术参数:

适用范围:

1、大豆夹角适用于花芽分化期、开花结荚期、鼓粒期、成熟期进行测量;

2、千粒重测量和种子计数系统几乎可以识别计数所有常见种子,包括玉米,水稻,小麦,大豆,油菜籽,花生,芝麻,绿豆,红豆,草籽等。

测量范围和误差:

大豆夹角测量范围0-180°,误差±5%

大豆茎粗测量范围0-5.2cm,误差±1%

千粒重测量误差:误差±2‰

 

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